中芯国际申请电容器件及其形成方法专利,利于提高电容器件的性能
金融界2024年12月21日消息,国家知识产权局信息显示,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司申请一项名为“电容器件及其形成方法”的专利,公开号CN 119153433 A,申请日期为2023年6月。
专利摘要显示,一种电容器件及其形成方法,其中结构包括:位于衬底上的金属层结构,金属层结构包括层叠设置的若干第一电极层、位于相邻两层第一电极层之间的第二电极层、以及位于相邻的第一电极层和第二电极层之间的第一介质层,各第一电极层位于第二区上且延伸至第一区,各第二电极层位于第二区上且延伸至第三区;位于第一区上的第一导电插头,第一导电插头包括第一部和位于第一部上的第二部,第一部沿衬底表面法线方向贯穿各第一电极层,且连接各第一电极层,第一部侧壁与衬底表面法线方向具有第一夹角,第二部侧壁与衬底表面法线方向具有第二夹角第夹角大于第二夹角,利于降低第一导电插头和各第一电极层之间的接触电阻,利于提高电容器件的性能。
本文源自:金融界作者:情报员
专利摘要显示,一种电容器件及其形成方法,其中结构包括:位于衬底上的金属层结构,金属层结构包括层叠设置的若干第一电极层、位于相邻两层第一电极层之间的第二电极层、以及位于相邻的第一电极层和第二电极层之间的第一介质层,各第一电极层位于第二区上且延伸至第一区,各第二电极层位于第二区上且延伸至第三区;位于第一区上的第一导电插头,第一导电插头包括第一部和位于第一部上的第二部,第一部沿衬底表面法线方向贯穿各第一电极层,且连接各第一电极层,第一部侧壁与衬底表面法线方向具有第一夹角,第二部侧壁与衬底表面法线方向具有第二夹角第夹角大于第二夹角,利于降低第一导电插头和各第一电极层之间的接触电阻,利于提高电容器件的性能。
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(图片来源网络,侵删)

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